X射线衍射仪:根据光的衍射原理,主要用于用于检测材料的晶格取向和晶体质量。
AFM(原子力显微镜):根据原子之间的相互作用力,主要用于表征材料表面形貌的粗糙度。
SEM(扫面电子显微镜):利用电子束轰击材料表面,收集材料表面二次电子的信息成像。主要用于表征材料的表面形貌。
Raman Spectra(拉曼光谱):根据材料中的分子对光的散射,这些散射信号对应着分子的振动和旋转的状态。主要用于鉴别物质化学结构,材料质量(结晶性),探测材料应力(分子间作用力)。
XPS (X射线光电子能谱):随着该原子所在分子的不同,利用高能X射线将原子内壳层电子打出,得到该给定内壳层电子的光电子峰会有位移,称为化学位移。由此判断材料分子结构和原子价态,元素组成和含量等方面的信息。